In Process Controls (IPCs)

• Wurden alle registrierten IPCs gemäss Herstellvorschrift durchgeführt?
• Wurden die definierten IPC Grenzwerte eingehalten?
• Gab es OOS, OOT oder atypische Trends?
• Sind Verschiebungen der Prozessfähigkeit erkennbar (z.B. tiefer Cpk)?
• Wurden IPC Limits, Prüffrequenzen oder Methoden geändert?

Typische IPCs

• Gleichförmigkeit der Masse
• Härte
• Feuchtigkeit
• pH
• Viskosität

Relevante CTD / Dossier Kapitel

Informationen zu IPCs finden sich typischerweise in:

• 3.2.P.3.3 (Description of Manufacturing Process and Process Controls)
• 3.2.P.3.4 (Controls of Critical Steps and Intermediates)

Zusätzlich empfehlen wir den Abgleich mit:

• Herstellvorschriften
• Prozessvalidierungsberichten
• analytischen Methode

Änderungen an IPCs und Variations

Gerade bei Änderungen an IPCs sehen wir häufig, dass diese auf die Lange Bank geschoben werden und regulatorisch nicht ausreichend bewertet werden:

• Anpassung von IPC Limits
• Änderung der Prüffrequenz
• Einführung oder Entfernung von IPCs
• Wechsel analytischer Methoden
• Anpassungen kritischer Prozessparameter

Solche Änderungen sollten im Rahmen des PQRs systematisch überprüft und hinsichtlich möglicher Variations bewertet werden.

Darstellung der Daten

Wenn immer möglich, sollten im PQR alle durchgeführten Tests aufgelistet werden, sowohl die qualitativen als auch die quantitativen. Bei quantitativen Tests ist eine statistische Analyse zu Process Capability (Cpk) sowie ein Scatter Plot immer gerne gesehen.

In der dargestellten Grafik ist eine typische IPC dargestellt mit einem "Jumping Trend". Ein solcher Trend im Prozess muss erklärt und bewertet werden.

Statistische Kenngrössen

Der Process Capability Index (Cpk) beschreibt, wie gut ein Prozess innerhalb seiner definierten Spezifikationsgrenzen arbeitet und gleichzeitig die natürliche Prozessvariation berücksichtigt.

$$ C_{pk} = \min\left(\frac{USL-\mu}{3\sigma}, \frac{\mu-LSL}{3\sigma}\right) $$

Dabei gilt:

Cpk = Process Capability Index
USL = Upper Specification Limit
LSL = Lower Specification Limit
μ (mu) = Mittelwert des Prozesses
σ (sigma) = Standardabweichung des Prozesses
3σ = natürliche Prozessvariation